金融界 2024 年 11 月 13 日消息，国家知识产权局信息显示，FEI 公司取得一项名为“用于基于 RF 脉冲电子束的 STEM 的系统和方法”的专利，授权公告号 CN 114068268 B，申请日期为 2021 年 8 月。本文源自：金融界 作者：情报员
通过高分辨率透射电子显微镜(HRTEM)、高角度环形暗场扫描透射电子显微镜(HAADF-STEM)、原位透射电子显微镜(DFTEM)以及PFM光谱技术等多种微观表征手段,本文揭示了β″-In₂Se₃纳米线在...
（全球TMT2024年11月8日讯）DXC Technology宣布将通过一系列全球性举措推动科学技术、工程和数学(STEM)教育的发展，致力于打造多元且包容的职场环境。作为全球IT服务领域的领军企业，DX...
本文通过先进的表征技术,特别是扫描透射电子显微镜(STEM)与电子能量损失谱(EELS),深入研究了GaN中棱柱堆垛层错(PSF)附近的缺陷声子模式,揭示了其独特的声子行为。STEM-EELS技术的高空间...
据悉，本次项目将持续到10月20日，通过研讨会、工作坊、学校访问和文化体验活动等，旨在促进来自不同国家的教师和教育工作者之间的教育思想和经验交流，加强“一带一路”合作伙伴的教育...
更多内容请点击：FEI 公司取得用于基于 RF 脉冲电子束的 STEM 的系统和方法专利