扫描电子显微镜（SEM）是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。 其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品，通过光束与物质间的相互作用，来激发各种物理信息，对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。
2023年10月8日 · 一文详解扫描电子显微镜 (SEM)的工作原理及应用技术. 扫描电子显微镜 （Scanning Electron Microscope，简称 SEM）是一种新型的电子光学仪器，主要用于观察样品的表面形态和结构。. SEM 在上世纪 60 年代迅速发展起来，它位于 透射电子显微镜 （Transmission Electron Microscope ...
扫描电子显微镜（SEM）使用聚焦电子束扫描样品，获得带有样品形貌和成分信息的图像。. 蔡司CSEM（采用热电子源的传统SEM）和FE-SEM（带场发射电子源的场发射SEM）提供高分辨率成像和出色的材料衬度。.
2017年8月21日 · 原位电镜——“看见”催化反应. 对于多相催化来说，搞清楚反应条件下的催化剂的结构一直是研究者们非常关心的话题。. 如果能够在原子或分子层面对反应条件下的催化剂结构有一个了解，那对于理解催化现象、设计催化剂将会非常有帮助。. 常规的谱图表征 ...
2024年1月19日 · 原位透射电子显微技术（in-situ TEM）是一种先进的显微镜技术，可以在原子尺度下实时观察材料的结构和行为。 它结合了透射电子显微镜和原位实验技术，通过在不同环境条件下对材料进行观察，揭示材料在真实工作环境下的行为和变化过程。 与传统透射电子显微镜技术相比，原位透射电子显微镜技术的主要区别在于其实时观察能力和对材料 …
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